În perioada 20 – 23 august 2020 a avut loc conferința internațională 10th edition of the International Conference „Advanced Topics in Optoelectronics, Microelectronics and Nanotechnologies” (ATOM-N 2020), eveniment organizat de Centrul de Cercetare în Optoelectronică de la Universitatea „Politehnica” din București și Universitatea Maritimă din Constanța.
La această conferință au fost susținute următoarele lucrări:
- „Measurements of the emission parameters of a WiMax BTS under interference conditions”, autori: Eugen STANCU, Cristian CAPOTĂ, Alexandru BADEA, Simona HALUNGA, Nicolae VIZIREANU.
- „Processing gain considerations on compromising emissions”, autori: Răzvan BĂRTUŞICĂ, BOITAN Alexandru, Octavian FRATU, Mădălin MIHAI.
- „Vulnerabilities in Authentication Process GSM standard – RF measurements Theoretical and Practical Aspects”, autori: Cristian CAPOTĂ, Octavian FRATU, STANCU Eugen, Mihai GĂINĂ, Dragos VIZIREANU.
Comunicările vor fi indexate SPIE și ISI.
Conferința a fost o ocazie deosebită de a disemina activitatea colectivului SIIMA și pentru a stabili contacte cu persoane a căror arie de activitate este similară cu cea a colectivului nostru de cercetare.